SYNOLOGY SSD NVMe M.2 SNV3410/3510 | SSD 800GB | Alto Rendimiento 400000 IOPS Lectura | Resistencia Empresarial 1022 TBW | Protección de Datos Integral | Análisis de Vida Útil | Diseñada para Sistemas Synology. MOD: SNV3410-800G
Las SSD NVMe M.2 SNV3410/3510 de Synology están diseñadas para gestionar cargas de trabajo de almacenamiento en caché exigentes en entornos multiusuario permanentes. Con un rendimiento de hasta 400000 IOPS de lectura aleatoria y una resistencia de 1022 TBW, estas unidades ofrecen una experiencia de almacenamiento optimizada y duradera. Integradas con el sistema operativo DiskStation Manager (DSM) de Synology, proporcionan análisis de vida útil basados en cargas de trabajo reales y actualizaciones automáticas de firmware.
Características Principales
- Alto rendimiento con hasta 400000 IOPS de lectura aleatoria y 70000 IOPS de escritura aleatoria
- Resistencia de nivel empresarial con 1022 TBW
- Protección de datos integral para garantizar la integridad de los datos
- Análisis de vida útil basado en cargas de trabajo reales
- Diseñada específicamente para sistemas Synology con actualizaciones automáticas de firmware
- Garantía limitada de 3 años
Detalles Técnicos
Especificaciones
- Capacidad: 400 GB, 800 GB
- Factor de forma: M.2 2280, M.2 22110
- Interfaz: NVMe PCIe 3.0 x4
- Lectura secuencial: 3000 MB/s, 3100 MB/s
- Escritura secuencial: 750 MB/s, 1000 MB/s
- Resistencia (TBW): 491 TB, 1022 TB
- MTBF: 1.8 millones de horas
- UBER: < 1 sector por cada 10^17 bits leídos
Interfaces y Conectividad
- Interfaz NVMe PCIe 3.0 x4
- Protección contra pérdida de energía (SNV3510)
- Compatibilidad con Synology DSM
Aplicaciones y Casos de Uso
Almacenamiento en Caché
Ideal para entornos multiusuario y aplicaciones de bases de datos que requieren un alto rendimiento de E/S.
Posproducción Multimedia
Perfecta para cargas de trabajo intensivas en datos, como la edición de video y audio.
Sistemas Empresariales
Diseñada para sistemas de almacenamiento empresariales que requieren alta resistencia y fiabilidad.
